SN74BCT8373ANT是德州儀器旗下的專業(yè)邏輯 產品，深圳凌創(chuàng)輝電子有限公司提供SN74BCT8373ANT現(xiàn)貨庫存與價格報價查詢。我們可為您提供SN74BCT8373ANT datasheet數(shù)據(jù)手冊下載、規(guī)格參數(shù)查閱及替代型號推薦，原裝正品保障，支持批量采購與在線詢價，發(fā)貨速度快。
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| Product Status | Obsolete |
| Logic Type | Scan Test Device with D-Type Latches |
| Supply Voltage | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 8 |
| Operating Temperature | 0°C ~ 70°C |
| Mounting Type | Through Hole |
| Package / Case | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| Supplier Device Package | 24-PDIP |
SN74BCT8373ANT 是由 德州儀器 制造的 專業(yè)邏輯 類電子元器件。IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP。該器件的核心參數(shù)包括：Product Status: Obsolete、Logic Type: Scan Test Device with D-Type Latches、Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V、Number of Bits: 8、Operating Temperature: 0°C ~ 70°C、Mounting Type: Through Hole。
SN74BCT8373ANT 共有 8 項技術參數(shù)，涵蓋電氣特性、機械特性和環(huán)境特性等方面。其他規(guī)格還包括 Package / Case（24-DIP (0.300", 7.62mm)）、Supplier Device Package（24-PDIP） 等。更多詳細參數(shù)請查閱上方"產品參數(shù)"標簽頁。同時您還可以下載PDF規(guī)格書，獲取完整的引腳定義、應用電路和性能曲線等資料。
關于 德州儀器：德州儀器公司（Texas Instruments Incorporated，簡稱TI）是一家全球領先的半導體設計和制造企業(yè)，專注于開發(fā)模擬集成電路和嵌入式處理器。通過匯聚全球最杰出的人才，TI不斷創(chuàng)造出塑造科技未來的創(chuàng)新成果。TI正助力超過10萬名客戶在當下變革未來。
SN74BCT8373ANT 現(xiàn)貨庫存充足，可通過深圳凌創(chuàng)輝電子有限公司立即采購。作為 德州儀器 代理商和供應商，我們保證所有元器件均為100%原裝正品，來源可靠可追溯。我們提供SN74BCT8373ANT價格報價查詢、datasheet數(shù)據(jù)手冊下載、規(guī)格參數(shù)查閱及替代型號推薦服務，支持批量采購與在線詢價。立即申請報價，獲取 SN74BCT8373ANT 的最新價格和交期信息。
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