| Product Status | Obsolete |
| Logic Type | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Supply Voltage | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 8 |
| Operating Temperature | 0°C ~ 70°C |
| Mounting Type | Through Hole |
| Package / Case | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| Supplier Device Package | 24-PDIP |
SN74BCT8374ANT 是由 德州儀器 制造的 專業邏輯 類電子元器件。IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP。該器件的核心參數包括：Product Status: Obsolete、Logic Type: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops、Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V、Number of Bits: 8、Operating Temperature: 0°C ~ 70°C、Mounting Type: Through Hole。
SN74BCT8374ANT 共有 8 項技術參數，涵蓋電氣特性、機械特性和環境特性等方面。其他規格還包括 Package / Case（24-DIP (0.300", 7.62mm)）、Supplier Device Package（24-PDIP） 等。更多詳細參數請查閱上方"產品參數"標簽頁。同時您還可以下載PDF規格書，獲取完整的引腳定義、應用電路和性能曲線等資料。
關于 德州儀器：德州儀器公司（Texas Instruments Incorporated，簡稱TI）是一家全球領先的半導體設計和制造企業，專注于開發模擬集成電路和嵌入式處理器。通過匯聚全球最杰出的人才，TI不斷創造出塑造科技未來的創新成果。TI正助力超過10萬名客戶在當下變革未來。
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